Neurological Surgery 脳神経外科6巻8号

1978年08月発行

研究

頭部CT scanによる頭蓋内疾患の自動定量診断化の研究（第1報）—システム評価とヒストグラムによる検討

著者： 上田裕一¹

所属機関： ¹獨協医科大学脳神経外科

ページ範囲：P.767 - P.780

Ⅰ．はじめに
　頭部CT scanは，原理的にはX線横断撮影法であるが，断層内を仮想絵素（voxel）に割り，各絵素のX線吸収係数値を計算して，その値をgray scaleで表わし，CRT上に画像として表出する．得られる画像の診断情報の豊さにより頭蓋内疾患の診断には欠かせない検査法となった^1）．
　CT scanで得られる情報の基本的なものは，位置情報を持つ各voxelのX線吸収係数値である．位置情報を無視すれば，X線吸収精密測定装置と考えられる．