検査と技術21巻8号

1993年07月発行

技術講座 病理

走査型電子顕微鏡の病理診断への応用—試料作製法を中心として

著者： 岩坂茂¹ 岡輝明¹ 町並陸生¹

所属機関： ¹東京大学医学部病理学教室

ページ範囲：P.591 - P.595

サマリー
　生体の形態や構造を観察する場合，私たちはまず，それらを肉眼的に観察し，さらに細部の構造観察のために光学顕微鏡を用いるが，光学顕微鏡には0.2μmという解像力の限界があるため，それより細かい微細構造の観察は電子顕微鏡に頼らざるをえない．病理診断のためには，従来から透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope；TEM）が多く利用され，大きな成果を上げてきた．しかし，近年走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope；SEM）の性能も飛躍的に向上し，病理学の分野でも応用範囲が広がり，光学顕微鏡とSEMあるいはTEMとSEMを併用することによる病理診断における有用性が論じられている．
　本稿では，ヒトの生検，剖検材料を取り扱う場合の試料作製法を中心に解説し，いくつかの応用例を示す．