検査と技術24巻6号

1996年06月発行

マスターしよう検査技術

電顕用標本薄切法

著者： 引野利明¹ 小山徹也¹ 福田利夫¹ 中島孝¹

所属機関： ¹群馬大学医学部第二病理学教室

ページ範囲：P.517 - P.522

　透過型電子顕微鏡試料の作製過程は，原理的には光学顕微鏡試料の作製過程とさほど変わりはないが，試料に電子線を透過させて観察するために極めて薄い切片の作製が要求される．通常は60〜90mμくらいの厚さの切片がガラスナイフやダイヤモンドナイフなどで切削され観察に用いられる．従来は主としてガラスナイフによって薄切が行われていたが，そこには熟練やコツといったものが不可欠であった．最近ではより優れた超ミクロトームが登場し，さらにダイヤモンドナイフの一般的な使用も増えたこともあって，初心者でも容易に薄切が行えるようになった．ただ，その目的が組織，細胞構築の繊細な観察であるために，試料の採取から固定，包埋，重合までの各操作が後の薄切に影響を与え，これによって超微形態にも変化をもたらすこともあるため，これら薄切前の各操作も慎重に行う必要がある．ここでは良好に固定，包埋された後の薄切法について解説する．