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増刊号 病理組織・細胞診実践マニュアル 第IV章 電子顕微鏡検査
2.試料の処置 3)超薄切
著者: 岩坂茂1
所属機関: 1東京大学医学部病理学講座
ページ範囲:P.283 - P.285
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電子顕微鏡試料の超薄切片の厚さは,通常60〜90nm(干渉色でSilber〜Goldの範囲,図8参照)が良いとされているため,試料の大きさを小さくトリミングする傾向にあったが,近年ではダイヤモンドナイフの普及や,広範囲を見たいという病理診断としての要求もあって,2mm2以上の切削面でも十分超薄切が可能となってきている.
電子顕微鏡試料の超薄切片の厚さは,通常60〜90nm(干渉色でSilber〜Goldの範囲,図8参照)が良いとされているため,試料の大きさを小さくトリミングする傾向にあったが,近年ではダイヤモンドナイフの普及や,広範囲を見たいという病理診断としての要求もあって,2mm2以上の切削面でも十分超薄切が可能となってきている.
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