臨床眼科59巻8号

2005年08月発行

特集 第58回日本臨床眼科学会講演集　(6)

学会原著

OCT光干渉断層計2機種による網膜厚マッププログラム測定の比較

著者： 川崎良¹ 土谷大仁朗¹² 芳賀真理江¹ 神尾聡美¹ 佐藤浩章¹ 菅野誠¹ 山本禎子³ 山下英俊¹

所属機関： ¹山形大学医学部情報構造統御学講座視覚病態学分野 ²済生会山形済生病院眼科 ³山形大学医学部眼細胞工学講座

ページ範囲：P.1357 - P.1361

文献概要

目的：光干渉断層計（OCT）で網膜厚を定量的に評価できる。2種類の装置による網膜厚マップ解析を比較検討した。方法：ハンフリーOCT2000とEG-Scannerを使用した。厚さを実測してあるスライドガラスを使い両機種の測定傾向を調べた。また，正常眼，糖尿病網膜症，網膜中心静脈閉塞症を含む23眼の網膜厚マップを両機種で作成し比較した。結果：スライドガラスの測定で，網膜厚の回帰直線は，［OCT2000］＝0.9406×［EG］となった。両機種による網膜厚マップの測定結果には有意差がなかった。相関係数は0.7609（p＜0.001），回帰直線は［OCT2000］＝0.9958×［EG］であった。結論：OCT2000とEGによる網膜厚マップ解析は比較可能である。