臨床眼科74巻6号

2020年06月発行

今月の表紙

感覚網膜割断面の走査電子顕微鏡写真

著者： 杉田新¹ 寺崎浩子²

所属機関： ¹おおつか杉田眼科 ²名古屋大学

ページ範囲：P.662 - P.662

　ニホンザルの感覚網膜を割断して走査電子顕微鏡（scanning electron microscope：SEM）でみたもので，感覚網膜に特徴的な層構造がよくわかる。本図は，左側が硝子体側，右側が脈絡膜側であるが，左側から右側に向かって，内網状層の一部，内顆粒層，外網状層，外顆粒層，外境界膜，杆体・錐体層の一部，が区別できる〔なお，本稿の写真は「眼の神秘SEMアトラス」（筆者の自費出版）からの転載である〕。

　SEMの最大の特徴は，焦点深度が深く立体的な画像が得られることで，感覚網膜の割断面をSEMでみると，各層相互の3次元的位置関係がよくわかる。SEMは透過電子顕微鏡に比べると観察範囲が広いこと，光学顕微鏡に比べると分解能が高く，微細構造レベルの観察ができること，などの利点がある。SEMの観察対象としては，従来は細胞・組織の自由表面に限られていたが，試料作製を工夫することで細胞・組織の内部構造を観察することもできる。本図は樹脂凍結割断法を応用して，ニホンザルの感覚網膜割断面をSEMでみたものである。今回の写真撮影に使用した検査機器はフィールドエミッションSEM，日立HFS-2（分解能は3nm）で，写真倍率は1,600倍である。