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実験講座
電子顕微鏡試料作製法—超薄切片法(1)
著者: 五十嵐至朗1
所属機関: 1東京大学解剖学
ページ範囲:P.142 - P.145
文献購入ページに移動 この実験講座は次の三つの点を主眼として書かれたものである。
(1)これから初めて電子顕微鏡を利用する研究者のためにできるだけ平易に,かつ具体的に説明すること。(2)副題にあるようにもつとも問題の多い超薄切片作製技術を中心に記述し,できるだけ原理的な説明も加えて内容の理解を深められるようにすること。(3)著者の過去の失敗例から,それを避けるために必要な要領を記載すること。
(1)これから初めて電子顕微鏡を利用する研究者のためにできるだけ平易に,かつ具体的に説明すること。(2)副題にあるようにもつとも問題の多い超薄切片作製技術を中心に記述し,できるだけ原理的な説明も加えて内容の理解を深められるようにすること。(3)著者の過去の失敗例から,それを避けるために必要な要領を記載すること。
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