臨床婦人科産科32巻10号

1978年10月発行

新しい視点をさぐる 新生児異常の診断技術

中枢神経系の異常

著者： 小宮弘毅¹

所属機関： ¹神奈川県立こども医療センター，新生児科

ページ範囲：P.725 - P.728

文献概要

　新生児の中枢神経系の異常を早期に発見することは，原因疾患の早期診断，早期治療のため，さらに後障害なき救命のためにきわめて重要なことである。
　中枢神経系の異常を早期に発見する第一歩は詳細な観察であり，「新生児異常の診断技術」はこの詳細な観察につきるといえよう。もちろん，異常が考えられる場合には診断を進めるためにさらに種々の検査も必要になってくる。