臨床検査30巻11号

1986年11月発行

わだい

二次イオン質量分析機（SIMS）による組織内微量金属の測定

著者： 只野寿太郎¹

所属機関： ¹佐賀医科大学検査部

ページ範囲：P.1238 - P.1238

　最近，計測技術や超真空技術などの進歩に伴って，プローブとして電子，イオン，光，X線などを利用する分析法が発達してきた．二次イオン質量分析機（secondary ion mass spectrometry；SIMS）はプローブに高エネルギーのイオン線を用い，試料中の微量金属を定量する目的で開発された機器である．
　医学の領域において組織内での微量金属の動態はWilson病，ヘモクロマトーシス，各種重金属中毒などの例を挙げるまでもなく，極めて興味のもたれている分野である．組織内の金属の分析は，古典的には染色法があるが，非特異的なこと，定量性のないこと，特定の金属しか同定できないことなどから，研究的な目的には使えない．現在，原子吸収分析法，プラズマ発光分析法などが用いられているが，組織を溶液状態にするため，組織内での分布状態を見ることができない．