臨床検査40巻7号

1996年07月発行

今月の主題 ニューロパチーの臨床検査 総説

脱髄の電気生理学

著者： 梶龍兒¹

所属機関： ¹京都大学医学部神経内科

ページ範囲：P.767 - P.770

　脱髄は神経の絶縁体である髄鞘の破壊によりおこる．正常では髄鞘は高電気抵抗・低電気容量であるが，脱髄に陥ると特にキャパシタンスが増大するために活動電流の散逸がおこり，伝導の遅延やブロックがおこる．臨床症状ともっともよく相関するのは伝導ブロックである．〔臨床検査40：767-770,1996〕